关键词： X荧光光谱 工业硅 铁 铝 钙
作者: 谷松海 李旭辉
作者单位: 天津出入境检验检疫局(天津)
会议类型: 国内会议
会议名称: 中国化学会第七届分析化学年会暨原子光谱学术会议
会议地点: 重庆
会议语种:中文
页码: 161-162
在线出版日期: 2000-10-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）