Ｘ射线荧光法测试钾长石的化学成份

摘要：

该文介绍了采用粉末压片制样，以Ｘ射线荧光光谱法测定彩色显像管玻璃用钾长石的化学组成其方法简便可行，结果稳定可靠，从聚样到振出分析结果仅需３个多小时，比用传统的湿法化学分析节约近８倍时间。

关键词： Ｘ荧光 粉末压片 钾长石 荧光强度 显象管 玻璃 原料

作者: 谌观秀 雷天安 白岩

作者单位: 赛格中康股份有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 1998年全国玻璃学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 888～890

在线出版日期: 1998-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）