应用ToF-SIMS分析固态金属表面及次表面氢同位素的研究
飞行时间-二次离子质谱技术(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry,ToF-SIMS)是一种强有力的表面&界面表征手段,与传统的表面分析技术相比,具有很高的横向和深度分辨率及超高灵敏度,能区分同位素,可以检测低原子序数的元素离子(Z＜11的元素)与分子碎片离子等.因此,ToF-SIMS是检测固体金属样品表面氢同位素的一种理想分析检测技术.利用ToF-SIMS对自制的两种含氘的固体样品(分别是充氘钛合金和含氘泡铝膜)表面及其次表面进行分析,通过改变Cs枪的溅射时间,实现了对这两种固体样品表面及其次表面氢同位素的检测分析.
充氘钛合金 含氘泡铝膜 氢同位素 检测分析
吴昊曦 魏兴俭
中国工程物理研究院材料研究所
国内会议
长春
中文
101-101
2016-08-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）