元器件测试过程中过电应力来源及防护

摘要：

本文以CMOS器件、稳压器、运算放大器为例讲述了元器件测试过程中过电应力的来源和防护方式.熟悉测试设备的工作原理和状态，正确的理解器件的工作特性是元器件测试工程师完成器件测试工作的一个前提，只有准确的绕过器件测试过程中的一个又一个的“坑”，才能避免产生过电应力。

关键词： 电子元器件 测试过程 过电应力 防护方式

作者: 简力 李安南 李永梅

作者单位: 湖北航天计量测试技术研究所,孝感 432000

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国航天科工集团第七届环境与可靠性技术交流会

会议地点: 贵阳

会议语种:中文

页码: 189-191

在线出版日期: 2019-09-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）