芯片级非对称场离子迁移谱技术快速识别不同霉变烟草

摘要：

建立了顶空进样法—芯片级非对称场离子迁移谱(Microchip-based FAIMS)技术快速识别霉变烟草.在常压条件下,以经过活性炭和分子筛净化的空气为载气,同时在正负离子模式下进行检测.在优化的条件下(载气流量2000mL/min,顶空温度为25℃,样品气流为100mL/min),对不同霉变程度烟草进行定性分析,建立识别规则,依据规则识别烟草霉变程度,识别率达90％以上,实现对203种烟草的快速检测.对得到不同烟草的特征峰,利用解析-气相色谱-质谱仪器(TD-GC-MS)定性分析不同霉变状态烟草的特征霉变物质,验证FAIMS测试结果.烟草特征峰在指定的CV值和DF值下,离子电流值值存在显著性差异,利于识别.方法重复性的相对标准偏差RSD≤5％.因此,FAIMS检测技术可用于快速识别霉变烟草的方法开发.

关键词： 霉变烟草 快速识别 顶空进样法 芯片级非对称场离子迁移谱

作者: 周沅桢 张强 羊一涛 李灵锋 汪小知

作者单位: 红云红河集团红河卷烟厂,云南省弥勒市桃园路50号 652399 云南瑞升烟草技术(集团)有限公司,昆明市高新开发区海源北路1699号 650106 浙江大学苏州工业技术研究院,江苏省苏州市高新区锦峰路8号5号楼 215000;浙江大学信息与电子工程学系,杭州市西湖区浙大路浙江大学玉泉校区微电子楼 310027 浙江大学信息与电子工程学系,杭州市西湖区浙大路浙江大学玉泉校区微电子楼 310027

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国烟草学会2017年学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 18-24

在线出版日期: 2017-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）