基于多方向小波提升IRFPA盲元检测精度方法

摘要：

红外焦平面成像质量受材料生长及器件制备工艺的影响,易出现盲元缺陷.精准的盲元检测是对于后续的红外图像处理有重要的意义,但固定条纹噪声的存在经常会导致盲元的检测偏差.本文利用复数小波分解的高频小波系数进行阈值去噪,将去噪的小波系数重构以消除条纹噪声对盲元检测的影响,再采用3σ准则进行盲元检测.经HgCdTe红外焦平面成像验证,本方法对具有固定条纹噪声的红外图像盲元检测更加精准.

关键词： 红外焦平面成像 图像处理 盲元检测 固定条纹噪声 小波系数

作者: 张瞳 陈洪雷 周松敏 林春

作者单位: 中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室,上海 200083;中国科学院大学,北京 100049 中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室,上海 200083

会议类型: 国内会议

会议名称: 2017年光学技术研讨会暨交叉学科论坛

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 1-5

在线出版日期: 2017-09-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）