可见短波红外碲镉汞焦平面器件响应光谱测量及理论分析
碲镉汞(Hg1-xCdxTe)红外焦平面器件可通过去衬底技术将响应波段从红外拓展到可见光,实现可见到短波红外的宽谱探测,对高光谱成像系统的小型化和微型化具有重要意义.本文重点研究了碲镉汞焦平面器件在可见短波红外的响应光谱,搭建了可见短波红外光栅光谱测试系统,并结合傅立叶红外光谱测试,测量了碲镉汞焦平面器件在0.5-3.1μm的响应光谱,器件截止波长约为2.79μm.并采用一维漂移扩散理论模型对响应光谱进行了分析,吸收层厚度、界面产生复合速率等都会对器件的响应光谱产生影响.
红外碲镉汞焦平面器件 可见短波 宽谱探测 响应光谱
樊华 王溪 魏彦锋 廖清君 胡晓宁
中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室,上海200083;中国科学院大学,北京 100049 中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室,上海 200083
国内会议
昆明
中文
1-7
2017-09-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）