分段两点校正算法的研究

摘要：

红外焦平面成像阵列的非均匀性严重限制了红外成像系统的成像质量,因此如何提高红外图像成像质量成为红外成像技术使用的关键.本文通过对多种非均匀性算法的分析和介绍,依据红外焦平面成像阵列像元对同一辐射响应曲线的特点,引入了基于两点校正算法和多点校正算法的新的校正算法,并通过真实的红外图像序列实验表明,该算法在实际的校正过程中取得了较好的效果.

关键词： 红外成像系统 红外焦平面成像阵列 非均匀性 分段两点校正算法 成像质量

作者: 余跃 曹耀心 杨栋 吴建东

作者单位: 上海航天控制技术研究所,上海 201109;中国航天科技集团公司红外探测技术研发中心,上海 201109

会议类型: 国内会议

会议名称: 2017年光学技术研讨会暨交叉学科论坛

会议地点: 昆明

会议语种:中文

页码: 1-5

在线出版日期: 2017-09-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）