X-射线荧光压片法测定矿石中锡含量

摘要：

本文研究了用X-射线荧光光谱仪压片法快速测定矿石中锡含量.试样1.0000g与3.0000g糊精混匀,压制成片,测定电压和电流分别为50kV和70mA.以康普顿散射线为内标,经验系数法校正基体干扰.锡的测定范围(0.005～10×10-2).检出限0.002％,相对标准偏差:(O.67～7.1％).标准物质测定值与国家标准物质推荐值一致,试样测定值与苯革取-苯芴酮分光光度法和等离子体发射光谱法测定值一致.

关键词： 矿石鉴定 锡元素 含量测定 X-射线荧光压片法

作者: 张孟星 梁文先

作者单位: 中国冶金地质总局一局测试中心 河北省 三河市 065201

会议类型: 国内会议

会议名称: 2017中国光谱仪器前沿技术学术研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 93-98

在线出版日期: 2017-06-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）