裂纹缺陷超声阵列识别方法研究
裂纹是材料与结构中最常见、危害性最大的缺陷类型之一.同时,裂纹具有明显的方向性,当裂纹方向与结构承载相垂直时,裂纹的危害最大,结构极易发生突然断裂.因此,裂纹方向的识别具有重要的意义.本文在对裂纹缺陷进行全聚焦成像的基础上,通过对全阵列进行子阵列划分,提出了一种基于子阵列技术的裂纹缺陷方向识别方法—矢量全聚焦成像方法及基于散射系数分布的裂纹缺陷方向识别方法.研究了子阵列划分中子阵列间隔及子阵列数量对缺陷识别的影响,并将其应用于典型结构中裂纹缺陷方向识别.
裂纹缺陷 超声阵列识别 矢量全聚焦 散射系数矩阵
焦敬品 杨素方 马婷 杜礼 孙欣蓉 侯松 吴斌 何存富
北京工业大学机电学院,100124
国内会议
北京
中文
488-490
2017-01-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）