LSX型体分子筛焙烧与二次晶化研究
以低硅铝比X(LSX)粉体、高岭土和LSX型体分子筛为研究对象,利用XRD和TG-DTA等手段对其物相和热稳定性进行了表征,探讨了不同晶化条件对LSX型体分子筛静态水吸附量的影响.研究表明,随着焙烧温度的升高,LSX粉体的结晶性遭到破坏,高岭土逐渐转化为偏高岭土,LSX型体分子筛的最佳焙烧温度为600□,在二次晶化温度为95□、晶化时间为5h与氢氧化钠浓度为2mol/L时,LSX型体分子筛的最佳静态水吸附量达到了33.5％.
分子筛 焙烧温度 二次晶化 静态水吸附量
王洪亮 胡宏杰 金梅
中国地质科学院郑州矿产综合利用研究所,河南郑州450006
国内会议
郑州
中文
102-112
2016-11-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）