光电耦合器的常见失效模式及案例
本文从光电耦合器的结构以及性能参数入手,对光电耦合器基于光、电的常见失效模式进行了介绍,并对这两方面的失效分析常见技术手段进行了对比.之后本文以LTV816D3光电耦合器的一例光电传输系数下降为0的失效案例为例,分别从电学失效分析与光学失效分析入手,采用了包括图示仪检测、X-射线检测、光发射显微镜检测等失效分析方法,对光电耦合器的失效分析提供了思路,对于其他类似电子元器件的失效分析也有参考作用.
光电耦合器 电学失效 光学失效 检测技术
毛毛 许广宁
工业和信息化部电子第五研究所 广东 广州 510610
国内会议
广州
中文
647-650
2016-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）