无源液晶显示屏的封装失效及分析技术

摘要：

TN和STN LCD作为各类仪表的显示界面而得到大量的使用,其质量可靠性成为使用者对整机可靠性判断的第一要素.本文介绍了TN/STN模组的典型封装结构,总结了该类器件的常见失效模式与可能的失效原因,并结合失效案例详细说明了这类器件独特的失效分析方法.

关键词： 无源液晶显示屏 封装结构 失效模式 可靠性判别

作者: 许广守

作者单位: 工业和信息化部电子第五研究所可靠性研究分析中心 广东 广州 510610

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十八届电子信息技术学术年会

会议地点: 广州

会议语种:中文

页码: 658-661

在线出版日期: 2016-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）