使用深能级瞬态谱研究P型硅太阳电池的光率机理
通过DLTS从微观机理上说明了磷吸杂以及氢化处理后P型多晶硅片少子寿命提高的原因,从宏观及微观上分析了AlOx和AlOx/SiNx叠层钝化的吸杂及未吸杂硼掺杂多晶硅寿命样品的LeTID现象。
硅太阳电池 光率机理 多晶硅 深能级瞬态谱
王文静 周春兰 郑雄
中国科学院电工研究所 中国科学院大学
国内会议
南昌
中文
1-24
2018-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
硅太阳电池 光率机理 多晶硅 深能级瞬态谱
王文静 周春兰 郑雄
中国科学院电工研究所 中国科学院大学
国内会议
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