晶体硅太阳电池的光衰减效应研究

摘要：

The LID defect in CZ silicon consists of substitutional boronatom and stagger type oxygen dimer.The LID defect in mc silicon is related to the metalimpurities or their aggregation at the structural defects.Regeneration treatment is a good way to eliminate the LIDdefects.Electronic injection by forward bias is an economicindustrial way for the elimination of LID defects.

关键词： 晶体硅太阳电池 光衰减效应 电子注入

作者: 余学功

会议类型: 国内会议

会议名称: 2018 年第十四届中国太阳级硅及光伏发电研讨会

会议地点: 南昌

会议语种:中文

页码: 1-38

在线出版日期: 2018-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）