晶硅太阳能电池组件在负1500V系统电压下的PID研究

摘要：

光伏产品检验检测中心介绍实验室占地面积2000平方米,拥有国内外先进仪器设备30余台及专业检测人员4名,全部为大专及以上学历.实验室荣获CNAS、TUV莱茵等第三方目击实验室资质.测试领域包括电池、组件、电站方面.实验结果表明，能通过负1000V系统电压下的PID测试的电池组件有可能不能通过负1500V系统电压下的PID测试；影响晶硅光伏组件PID的根本原因还是电池片本身，可以通过测试电池片的并联电导值来判断其组件的PID衰减情况，并联电导值越大，其组件PID衰减越大。

关键词： 晶硅太阳能电池组件 潜在电势诱导衰减 测试方法 并联电导值

作者: 汪燕玲

作者单位: 苏州腾晖光伏技术有限公司 光伏产品检验检测中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 2018 年第十四届中国太阳级硅及光伏发电研讨会

会议地点: 南昌

会议语种:中文

页码: 1-11

在线出版日期: 2018-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）