提振中国芯质量:ATE测试的机会和挑战

摘要：

本文简述了提振中国芯的质量，分析了ATE测试的机遇和挑战，应该提高产品良率，提高测试效率，测试覆盖率。

关键词： 集成电路 性能测试 芯片质量

作者: 张震宇

作者单位: 泰瑞达(亚洲)有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 2018中国集成电路产业发展研讨会暨第21届中国集成电路制造年会

会议地点: 无锡

会议语种:中文

页码: 30-36

在线出版日期: 2018-09-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）