会议专题

用微区分析X射线荧光光谱法测定Sr(NO<,3>)<,2>晶体中不同晶面Ni浓度

X射线荧光光谱 晶体杂质分析

王鹤泉 吴立军

清华大学化学系(北京) 中科院物理所(北京)

国内会议

中国化学会第七届分析化学年会暨原子光谱学术会议

重庆

中文

1424-1425

2000-10-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)