Vz测试技术在LED缺陷筛选中的应用和研究
LED制造和封装工艺中缺陷不可避免,探索出一种比较实用、操作性强、效率高的芯片缺陷和封装缺陷的筛选手段非常有实际意义.基于p-n结的光生伏安特性,利用维明测试机的Vz检测功能,可以有效对芯片缺陷中的沾污、晶格错位,及封装工艺中的塌线、碎晶,打线偏,静电击穿等不良进行筛选.实践表明,该方法具有高检出率,能够实现LED芯片功能缺陷及封装缺陷的检测,进一步降低了LED在高端领域应用的品质风险.本文探讨了Vz测试技术的应用,并积累大量实验数据,收集了大量客户端应用信息,对同行具有一定的借鉴和参考意义.
发光二极管 缺陷筛选 反向饱和电压测试 p-n结 伏安特性
李芳
浙江古越龙山电子科技发展有限公司
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362-369
2016-11-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）