LED光学检测外部环境温度补偿实验研究

摘要：

LED芯片检测是LED产业链中非常关键的一个环节,由于芯片尺寸小,并且对芯片在线检测的效率及精度要求较高,所以实现难度大.目前此类设备主要依赖进口,这很大程度上制约着中国LED产业的发展.LED芯片的光电参数随着环境温度的变化而受到影响,如LED芯片的光通量、颜色、正向电压、输出功率等,这主要是由于环境温度的改变会直接的影响到LED芯片的结温,当环境温度升高时将导致LED芯片散热条件变差,LED芯片结温升高,加之LED芯片在测试过程中对温度十分敏感,所以环境温度的变化间接的对LED芯片测试带来误差.本文针对LED芯片在线检测中外部环境温度对其光学检测的影响进行研究,发现环境温度与LED芯片相对辐射通量大致呈线性关系,并根据实验数据进行线性拟合可以得到环境温度与相对辐射通量的具体对应关系,然后用同种芯片测得的数据来验证其准确性.并在测量过程中对温度引起的误差进行实实时补偿并提升检测精度.

关键词： 发光二极管 光学检测 环境温度 误差补偿

作者: 万子瑞 陈腾飞 李斌

作者单位: 华中科技大学 机械科学与工程学院,武汉 430074

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届全国智能制造学术会议(NCIM2016)暨智能制造专业委员会2016年度工作会议

会议地点: 广州

会议语种:中文

页码: 1-6

在线出版日期: 2016-12-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）