鎢组玻璃封接件电解现象的克服

摘要：

采用钨与DW-211玻璃封接的中型发射管,曾相继出现芯柱封接段的玻璃疵害,经过较长时间的观察、试验、研究,确定玻璃在一定的外界条件,如器件长时间有温度存在及电坊作用下,而发生电解现象是造成电子管在排气时真空度不高,以及电子管寿命试验过程中,芯柱玻珠处炸裂.本文著重讨论了FU-80型电子管芯柱疵害情况,并略述碟型及平板型芯柱玻璃电解现象.

关键词： 钨组玻璃 封接件 电解现象

作者: 马增海

作者单位: 七七四厂

会议类型: 国内会议

会议名称: 1980年中国硅酸盐学会电真空玻璃专业委员会学术年会

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 10-12

在线出版日期: 1980-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）