基于加压的存储态真空电子器件加速寿命方法

摘要：

本文提出了基于加压的存储态真空电子器件加速寿命方法,建立了相应的加速寿命模型.根据该方法研制了加速寿命试验平台,并对某已正常存储7年的某真空电子器件进行了4.5个大气压环境下存储155天的加速寿命试验.结果表明,加压环境加速了阴极电流下降率,是正常存储时的6.14倍.存储真空电子器件加压加速寿命试验方法有效.

关键词： 真空电子器件 存储寿命 加速寿命试验

作者: 袁慧宇 周军 欧阳佳佳 盛兴 孙小菡

作者单位: 东南大学电子系统与器件可靠性研究所,南京210096;淮北师范大学信息学院,淮北235000 中电科技集团第12研究所,北京100015 东南大学电子系统与器件可靠性研究所,南京210096

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会真空电子学分会第二十届学术年会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 1-4

在线出版日期: 2016-08-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）