电子轨迹斜率分析

摘要：

本文通过对永磁聚焦磁系统测量分析,对边缘电子轨迹方程进行了假设,导出了电子轨迹斜率方程,并将其初步应用于行波管和速调管的磁系统的评价分析.

关键词： 行波管 速调管 永磁聚焦磁系统 边缘电子轨迹 斜率分析

作者: 侯建平 张丹书 傅克信

作者单位: 中国电子科技集团公司第十二研究所 北京 100015

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会真空电子学分会第二十届学术年会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 1-4

在线出版日期: 2016-08-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）