嵌段共聚物自组装的超分辨成像
嵌段共聚物由于嵌段间极性或相容性的差别,在溶液或固态下形成不同的纳米结构或图案.这些微相结构尺寸通常在100纳米以下,不能采用一般光学显微镜进行观察与表征,而通常采用TEM、SEM或AFM表征.这些方法主要表征聚合物静态纳米结构及其微相分离,并且SEM和TEM需要在高真空、高电压下对聚合物纳米结构进行表征,而AFM主要表征表面形貌.对动态结构表征,例如嵌段共聚物胶束的形成过程、纳米结构演化等物理化学动态行为的观察和表征,上述方法存在很大的局限性。 这里采用自行设计的荧光分子开关作为超分辨探针,对嵌段共聚物纳米结构进行选择性染色,不仅可以观察嵌段共聚物胶束等纳米结构,使光学分辨率下探至40-50纳米,更令人惊奇的是,由于荧光分子开关的可逆性,可以长时间地原位跟踪嵌段共聚物胶束在溶剂退火下的形态和结构变化。这是采用光学显微镜首次原位观察到嵌段共聚物纳米结构的动态变化。
嵌段共聚物 自组装行为 超分辨成像 荧光探针
李冲 严洁 朱明强
华中科技大学武汉光电国家实验室(筹),武汉,430074
国内会议
2016年两岸三地高分子液晶态与超分子有序结构学术研讨会暨第十四届全国高分子液晶态与超分子有序结构学术论文报告会
南昌
中文
329-330
2016-08-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)