XRD测定炭素材料的石墨化度

摘要：

介绍了用X射(XRD)测定炭素材料石墨化度的原理和方法。指出：用高钝硅粉作内标校准的组分，同时计算出它们相应的含量。

关键词： X射线衍射 石墨化度 多重峰分离 内标

作者: 钱崇梁 周桂芝 黄启忠

作者单位: 粉末冶金国家重点实验室(湖南)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第18届炭-石墨材料学术会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 168-172

在线出版日期: 2000-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）