Low-E玻璃膜层产生放电、打弧现象的分析

摘要：

本文讨论的是在Low-E玻璃生产过程中所产生的放电、打弧问题.通过对磁控溅射镀膜工艺原理及Low-E玻璃的特性的介绍,结合实际生产流程,分析了放电、打弧产生的原因,给出了改善方案,减少放电、打弧现象的发生,提高产品质量和生产效率.

关键词： 建筑低辐射镀膜玻璃 磁控溅射 膜层放电 膜层打弧

作者: 江维 卢小刚 夏彬

作者单位: 咸宁南玻节能玻璃有限公司 湖北咸宁 437000

会议类型: 国内会议

会议名称: 2016年中国玻璃行业年会暨技术研讨会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 96-101

在线出版日期: 2016-03-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）