一种用于相控阵失效单元诊断的相控阵天线分析

摘要：

相控阵的失效单元的诊断受到研究者的广泛关注.本文分析并仿真了一种具备低副瓣电平,低交叉极化的相控阵天线.该天线可以采用时间调制,从而灵活地控制相控阵的工作状态,为阵列诊断的研究提供实验数据.

关键词： 相控阵天线 失效单元 诊断方法 工作状态 时间调制

作者: 熊灿 肖高标

作者单位: 电子信息与电气工程学院, 上海交通大学, 上海200240

会议类型: 国内会议

会议名称: 2016年上海市研究生学术论坛——电子科学与技术

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 73-74

在线出版日期: 2016-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）