CDM放电波形检测硬件系统设计

摘要：

IC器件在装配、传递、试验、测试、运输及存贮过程中,由于管壳与其它绝缘材料(如包装用的塑料袋、传递用的塑料容器等)相互磨擦,就会使管壳带电.器件本身作为电容器的一个极板而存贮电荷.而已带电的器件通过管脚与地接触时,会发生对地放电引起器件失效.为了探究上述情况下的器件放电情况以及为避免该种放电带来的不良后果,本文根据标准的CDM规范提出了一种简易测试设备,并进行初步设计制作与测试.

关键词： 放电波形 测试设备 硬件设计 带电器件模型

作者: 陈昭 陆宇 程玉华

作者单位: 上海北京大学微电子研究院,上海201203;信息工程学院,北京大学深圳研究生院,深圳,518055 上海北京大学微电子研究院,上海201203 上海北京大学微电子研究院,上海201203;信息科学技术学院,北京大学,北京,100871

会议类型: 国内会议

会议名称: 2016年上海市研究生学术论坛——电子科学与技术

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 129-131

在线出版日期: 2016-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）