一种基于量子隧道效应提高石墨烯FET开关比的方法
由于单层石墨烯无本征禁带宽度,传统的石墨烯MOSFET的开关比非常小,且容易受基底散射影响导致载流子迁移率急剧下降,严重影响器件性能,本文主要研究运用量子隧道效应来制备新型石墨烯FET器件以提高器件开关比,并通过改善石墨烯与基底界面接触来提高石墨烯FET器件的载流子迁移率的工艺方法.
石墨烯场效应晶体管 开关比 载流子迁移率 量子隧道效应
何伟 屈新萍
微电子学院,复旦大学ASIC和系统国家重点实验室,上海邯郸路220号200433
国内会议
上海
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206-208
2016-04-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)