计算机X射线照相检测技术(CR)及其应用
本文以与传统工业射线胶片照相检测方法作比较的方式,着重论述了计算机X射线照相检测技术(CR)的基本原理、检测工艺、与X射线胶片照相法的异同,澄清了一些数字射线照相检测方法的概念,基于CR检测方式得到的图像都是数码图像，其描述参数则要比X射线底片模拟影像复杂得多，实验结果及理论分析表明，在对缺陷性质、缺陷形态、缺陷尺寸的反映上两种检测方法基本没有区别。但CR图像可以通过滤镜快速处理工具，使CR图像中的缺陷图像更容易被识别出来，缺陷的可检出概率更高。并介绍了该种新型无损检测方法在国内外的工程实践应用前景和现状,对大规模普及和开展计算机数字X射线检测技术应用具有积极的参考意义.
无损检测 计算机X射线照相 表征参数 图像质量
李宏雷 王广坤 范春雷 庞彦平 姜凯
北京市特种设备检测中心,北京 100029 北京航星机器制造有限公司,北京 100013
国内会议
厦门
中文
460-466
2016-11-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）