基于FT-BDD法的导弹研制技术风险分析

摘要：

针对导弹研制阶段的技术风险特点,基于故障树理论建立技术风险逻辑结构,利用R-FT对导弹研制阶段技术风险进行概率计算和影响分析.将R-FT通过BDD方法转化为只含有基本风险事件的BDD逻辑关系图,直接对底事件进行定性、定量分析.描述了基于FT-BDD方法对导弹研制阶段技术风险进行分析的整体思路和实现途径.

关键词： 导弹 技术风险 故障树 逻辑关系图

作者: 王生玉 宋贵宝 孙尔蔓 赵泰清 王鑫

作者单位: 海军航空工程学院,山东 烟台 264001

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十七届中国管理科学学术年会

会议地点: 呼和浩特

会议语种:中文

页码: 333-338

在线出版日期: 2015-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）