高纯锗γ谱仪点源探测效率的蒙卡模拟计算

摘要：

利用X光机透射成像获得了高纯锗探测器精确几何尺寸,在此基础上了用蒙特卡洛计算软件MCNP5C建立了点源模拟的物理模型.通过与实验测量对比,确定了探测器死层厚度.模拟计算了88～1408keV能量范围内的10个能量点的点源探测效率,与实验值偏差在0.1％～3.9％内,均方根差为1.7％,模拟计算结果满意.

关键词： 辐射环境监测 高纯锗γ谱仪 探测效率 蒙特卡洛模拟

作者: 吴永乐

作者单位: 环境保护部核与辐射安全中心,北京 100082

会议类型: 国内会议

会议名称: 环境保护部核与辐射安全中心第五届学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 231-236

在线出版日期: 2015-10-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）