短波长X射线衍射法测量纳米铝块内部残余应力

摘要：

采用自主研发的SWXRD-1000型短波长X射线衍射仪测试了纳米铝块内部残余应力沿直径和厚度的大小及分布;同时利用Xstress-3000型X射线应力仪对烧结状态的试样表面的残余应力进行了检测.结果表明:纳米铝块内部晶粒取向分布均匀;随着热处理温度的升高,中心处的内部残余应力呈下降的趋势,厚度方向上残余应力分布整体为外拉内压,直径方向上内部残余应力呈现出中心高、两侧低的趋势,表面残余应力与内部残余应力具有很好的趋势一致性.

关键词： 纳米铝块 残余应力 X射线衍射法 晶粒取向

作者: 窦世涛 郑林 张朝晖 何长光 彭正坤 肖勇

作者单位: 中国兵器工业第五九研究所,重庆400039 北京理工大学材料学院,北京10081

会议类型: 国内会议

会议名称: 2015首届中国泛西部无损检测学术年会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 150-153

在线出版日期: 2015-09-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）