关键词： X射线能谱 薄膜 厚度 测量 方法
作者: 冯显灿 张人佶
作者单位: 师范学院物理系 大学机械工程系(北京)
会议类型: 国内会议
会议名称: 第七届全国X射线衍射学术会议
会议地点: 武汉
会议语种:中文
页码: 201～202
在线出版日期: 1998-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）