X射线无损探伤底片中缺陷黑度对缺陷评定的影响

摘要：

该文作者通过实践工作，发现在用X射线进行无损探伤过程中，黑度过大的缺陷（如针状气孔等），往往会带来评片结果与事实之间的偏差，针对以上问题，作者进行了理论分析，并提出了具体的初步解决方法。

关键词： X射线检验 D-T曲线 缺陷黑度

作者: 李志勇 郑渝

作者单位: 太原理工大学

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九次全国焊接会议

会议地点: 天津

会议语种:中文

页码: 777-779

在线出版日期: 1999-10-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）