针对薄层结构物质的微焦点摆动式分层成像方法研究
对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分析情况及分层成像的研究，是无损检测技术的一个重要应用领域。该文提出一种新的成像方法，在现有微焦点X辐射成像系统的基础上，采用一种特殊的摆动式扫描方式，基于非线性的重建成像算法，具有扫描速度快、算法简单、实时性高等特点，适合于多层大面积复合材料以及多层电路板的快速成像检测。
X射线 数字分层成像 非线性算法 相关算法
李政 刘亚强 程建平 倪建平 康克军
清华大学工程物理系(北京)
国内会议
成都
中文
388～391
2000-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）