微焦点X射线分层成像无损检测方法研究
对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像的研究，是无损检测技术的一个重要应用领域。该文提出一种新的成像方法，在现有微焦点Ｘ辐射成像系统的基础上，采用一种特殊的摆动式扫描方式，非线性面合成可以仅仅从很少的投影中重建物体，具有扫描速度快、算法简单、实时性高等特点。适合于多层大面积复合材料以及多层电路板的快速成像检测。
X射线 数字分层成像 非线性算法 无损检测
李政 王(王景) 程建平 王学武 倪建平 康克军
清华大学工程物理系
国内会议
第三届中国复合材料学会性能测试与检测专业委员会、第七届全国无损检测学会新技术专业委员会联合学术交流会
昆明
中文
62～66
2000-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）