Fill factor loss analysis for SHJ solar cells by simulation

摘要：

Outline FFloss analysis model FFloss analysis Intrinsic recombination Extrinsic recombination Rs Interface resistance in SHJ solar cell c-Si/a-Si interface resistance a-Si/TCO interface resistance FFloss analysis---2 diode model

作者: 杨黎飞

作者单位: 协鑫集成科技股份有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国太阳级硅及光伏发电研讨会

会议地点: 徐州

会议语种:英文

页码: 1-16

在线出版日期: 2017-11-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）