X射线数字分层成像的非线性方法研究

摘要：

对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像的研究，是无损检测技术的一个重要应用领域。通过实验可观察到，在接近焦平面时图像的灰度值有一定的非线性，该文提出一种新的成像方法，可以提高灵敏度，非线性的层面合成可以仅仅从很少的投影中重建物体，并使测量时间大大减少。

关键词： X射线 数字分层成像 非线性算法 高斯分布算法

作者: 王(王景) 李政 刘亚强 程建平 倪建平

作者单位: 清华大学工程物理系(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国核电子学与核探测技术学术年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 392～395

在线出版日期: 2000-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）