Light-induced degradation in multi-crystalline silicon material

摘要：

Multi vs.mono p-type wafers Mc-Si has 80-90 ％market share Industry wants to use PERC Mono-PERC ＞21 ％in production Mc-PERC ＞20 ％in production

作者: Catherine Emily Chan

作者单位: UNSW AUSTRALIA

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届中国太阳级硅及光伏发电研讨会

会议地点: 浙江嘉兴

会议语种:英文

页码: 1-36

在线出版日期: 2016-11-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）