不同辐射脉冲对界面RM不稳定性影响

摘要：

辐射脉冲宽度对界面RM不稳定性有非常大影响，短脉冲辐射，界面扰动相位转变一次，扰动RM不稳定性发展经历相位转变、线性增长、非线性增长。长脉冲辐射，界面扰动经过线性增长后，由于持续烧蚀触发RT不稳定性，使界面扰动相位再次发生改变，外部烧蚀层在内部材料中形成射流。通过调节辐射脉冲形状可以一定程度上控制扰动的发展。

关键词： 等离子体 辐射脉冲 界面烧蚀 冲击波 不稳定性

作者: 徐彬彬 马燕云 杨晓虎

作者单位: 国防科学技术大学理学院

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十七届全国等离子体科学技术会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 1-19

在线出版日期: 2015-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）