飞利浦无标半定量软件SemIQ的应用

摘要：

在ＰＷ２４００型Ｘ光荧光光谱仪利用ＳｅｍＩＱ程序对各种类型的样品进行定性和半定量全分析，并与样品理论值或定量分析结果进行比较，表明其分析结果是可信的。

关键词： X光荧光仪 无标 半定量分析

作者: 张家强 贺际春

作者单位: 炼油化工总厂研究院(岳阳)

会议类型: 国内会议

会议名称: 石油和石油化工系统第五届光谱分析技术报告会

会议地点: 无锡

会议语种:中文

页码: 149～151

在线出版日期: 1998-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）