辐射效应对SAR ADC影响及加固方法
本文将分析空间辐射效应的分类及作用机理,重点论述单粒子效应与总剂量效应对SAR ADC造成的影响以及目前针对这两类效应的加固方法.总体来讲，SAR ADC中数字电路部分的抗辐射加固技术相对来说比较成熟，但是模拟模块如DAC电容阵列、带隙基准的加固技术仍是难点，也将是抗辐射SAR ADC研究所面临的最艰巨的任务之一。近年来我国航天事业迅猛发展，在载人航天、探月等关键技术均有所突破，但关键宇航器件受制于人的局面并未得到根本扭转，高性能抗辐射FPGA、ABC及DAC等关键集成电路依然没有实现国产化。
集成电路 加固技术 单粒子效应 总剂量效应
安康 梁斌 李晋文
湖南省长沙市国防科学技术大学计算机学院 410073
国内会议
哈尔滨
中文
169-173
2015-08-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）