一种基于遗传算法的测试激励自动生成方法

摘要：

本文介绍了一种在UVM验证平台的基础上,利用遗传算法分析功能覆盖率信息,指导生成测试激励,建立从覆盖率到测试生成的闭环系统,与普通的约束随机激励生成方法相比,激励生成不需要编写复杂的约束,也不需要人为的分析覆盖率信息,节约大量验证时间.将该系统运用于处理器访存部件的功能验证中,实验结果表明,该验证方法有效提高了验证效率.

关键词： 集成电路 测试激励 遗传算法 验证工作

作者: 董伸 赵天磊 张民选

作者单位: 湖南省长沙市国防科学技术大学计算机学院 410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十九届计算机工程与工艺年会暨第五届微处理器技术论坛

会议地点: 哈尔滨

会议语种:中文

页码: 467-472

在线出版日期: 2015-08-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）