同步辐射GI-XAFS技术研究金属配合物在表界面中的相互作用机制
过去20多年里,基于同步辐射的X射线吸收谱在分子材料研究中起到了重要的作用,这归因于吸收谱在获取金属离子的氧化态、局域结构、近邻配位原子、吸附分子等重要信息方面发挥了重要作用.吸收谱与XPS,SEM等常用手段相比,除了可以获得重要的结构信息外,最大优势在于可以开展原位工作状态下材料的结构研究,同时还可以与X射线衍射,拉曼光谱,红外光谱,紫外光谱等其他重要手段联用,从而获得全方位立体信息.金属配合物在固体表面、固液、液液界面通过分子间作用力可以自组装形成具有特殊光、电、磁功能的分子材料,其功能特性与分子结构具有密切的关系,尤其是金属原子的电子结构、与近邻配体的配位结构、在界面所形成的自组装体排列结构.依托上海光源X射线吸收谱学线站，建立、发展和完善了GI-XAFS技术，研制了部分设备，搭建了相应的测试平台，获取处于表界面中的配合物分子结构以及不同组分之间的相互作用机制等谱学信息，在全反射临界角附近，通过调整入射X射线的角度，从而达到对样品结构进行精细分析的目的，建立了功能性金属配合物分子在表界面的自组装体同步辐射XAFS研究方法。
功能材料 金属配合物 表界面 自组装体 同步辐射
王建强
中国科学院上海应用物理研究所、上海市浦东新区张衡路239号、201204
国内会议
国家自然科学基金委员会“可控自组装体系及其功能化”重大研究计划年度交流暨研讨会
南京
中文
156-157
2014-02-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）