MCNP程序对X射线荧光基体校正曲线的模拟计算

摘要：

X射线荧光分析中,物质成分变化对检测结果会产生影响,多数情况下元素浓度含量和荧光强度间两者不成线性关系.针对不同浓度的Zr、基体为U(强吸收体)和H、O等非金属(弱吸收体)的多元混合样品,采用MCNP模拟了铀锆混合物及锆氧混合物的荧光强度-元素浓度关系,结果表明所获得的模拟校正曲线与理论计算结果吻合较好,为下一步用于实际X荧光测量中基体校正奠定基础.

关键词： X射线荧光分析 荧光强度 元素浓度 物质成分

作者: 赵峰 廖志海 乔洪波 安身平 王占明

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一届中国核学会“核科技、核应用、核经济”(三核)论坛

会议地点: 郑州

会议语种:中文

页码: 516-520

在线出版日期: 2014-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）