一种面向多刀片插箱的高效并发边界扫描机制

摘要：

为了提高超级计算机中多刀片插箱的调测试效率和灵活性,本文提出了一种高效并发边界扫描机制.该机制将插箱内监控主板上的多路JTAG信号接入背板上的交叉开关,配合监控主板上JTAG控制器的自选通算法,能够根据多终端输入的调测试命令自动选择合适的JTAG线路,实现多刀片的高效并发调测试.较现有边界扫描技术,具有灵活性好、效率更高、背板走线少、负载均衡等显著优点.

关键词： 超级计算机 刀片插箱 边界扫描 调测试技术

作者: 袁远 田宝华 蒋句平 张晓明 李宝峰

作者单位: 湖南省长沙市国防科技大学计算机学院 410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十八届计算机工程与工艺年会暨第四届微处理器技术论坛

会议地点: 贵阳

会议语种:中文

页码: 671-675

在线出版日期: 2014-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）