一种抗辐照寄存器文件设计

摘要：

分析了数字集成电路在空间辐射环境下受到高能粒子轰击产生单粒子翻转(SEU)和单粒子闩锁(SEL)的原理,并从电路和版图层面提出了相应的加固方法,实现了一款容量为32×32位的抗辐照寄存器文件的设计.hspice模拟结果表明:采用文中提出的加固方法所设计的寄存器文件具有很好的抗SEU效果,且发生SEL的概率大大降低.

关键词： 寄存器文件 单粒子翻转 单粒子闩锁 加固方法 抗辐照性能

作者: 邱明新 陈建军 陈吉华 梁斌

作者单位: 湖南省长沙市国防科技大学计算机学院 410073

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十八届计算机工程与工艺年会暨第四届微处理器技术论坛

会议地点: 贵阳

会议语种:中文

页码: 199-204

在线出版日期: 2014-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）