低能电子束能散对其产生的X射线能谱影响的研究
低能电子束打靶产生X射线的工业无损探测应用越来越广泛,其中工业CT的成像质量对X射线的性能要求越来越高,本文用蒙特卡罗模拟计算的方法研究分析了电子束能散对其产生的X射线能散影响,得到的结论是这种影响可以忽略,因而没有必要为减小束流能散而进行能量准直.CT成像的质量受X射线能谱的影响，X射线能谱越硬，CT成像质量越高。在单能电子束能量变化不大时，其产生的X射线能谱硬度不变。因此虽然直线加速器产生的电子束能散是不可避免的，但是由于电子束能散对X射线能谱硬度的影响可以忽略，所以就不需要为减小束流的能散而切掉部分束流(能量准直)，从而可以提高电子束的利用效率和X射线的产额。
电子直线加速器 计算机断层扫描 成像质量 X射线能谱 无损检测
李金海 刘保杰
中国原子能科学研究院,北京102413
国内会议
四川绵阳
中文
59-62
2015-09-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）