会议专题

氟化电热蒸发/ICP-AES直接测定TiO<,2>粉末中痕量杂质的研究

氟化电热蒸发 悬浮体制样 ICP-AES 痕量杂质

彭天右 胡斌 江祖成

武汉大学化学系(武汉)

国内会议

中国化学会第七届分析化学年会暨原子光谱学术会议

重庆

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105-106

2000-10-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)